В семинаре принял участие 21 специалист.
В докладе В.К. Гусева были представлены последний по дате выпуска (2004 год) стандарт IEC TR 62380 "Reliability data handbook - Universal model for reliability prediction of electronics components, PCBs and equipment", в моделях которого учтены современные достижения технологии радиоэлектронных компонентов, и данные по моделированию на базе этого стандарта надежности микропроцессора "Эльбрус" в различных условиях применения. Были рассмотрены проблемы организации испытаний аппаратуры на устойчивость к воздействию внешней среды.
Вопросы и выступления были в основном посвящены механизмам отказов, их влиянию на показатели надежности микропроцессора и результатам оценки этих показателей. По данным докладчика проведенное моделирование подтверждает соответствие показателей надежности микропроцессора "Эльбрус" требованиям заказчиков.
